Каталог> Знания и навыки> Бизнес-книги>

Отраслевые издания

> 9781119329657

Каталог


:: Java книги :: Авто :: Астрология :: Аудио книги :: Биографии и Мемуары :: В мире животных :: Гуманитарные и общественные науки :: Детские книги :: Для взрослых :: Для детей :: Дом, дача :: Журналы :: Зарубежная литература :: Знания и навыки :Бизнес-книги :Банковское дело :Бухучет / налогообложение / аудит :Государственное и муниципальное управление :Делопроизводство :Зарубежная деловая литература :Интернет-бизнес :Кадровый менеджмент :Корпоративная культура :Краткое содержание :Личная эффективность :Личные финансы :Логистика :Малый и средний бизнес :Маркетинг, pr, реклама :Менеджмент :Менеджмент и кадры :Недвижимость :О бизнесе популярно :Отраслевые издания :Переговоры :Поиск работы / карьера :Политическое управление :Продажи :Работа с клиентами :Стартапы и создание бизнеса :Тайм-менеджмент :Финансы :Ценные бумаги / инвестиции :Компьютерная литература :Научно-популярная литература :Словари, справочники :Учебная и научная литература :: Издательские решения :: Искусство :: История :: Компьютеры :: Кулинария :: Культура :: Легкое чтение :: Медицина и человек :: Менеджмент :: Наука и образование :: Оружие :: Программирование :: Психология :: Психология, мотивация :: Публицистика и периодические издания :: Разное :: Религия :: Родителям :: Серьезное чтение :: Спорт :: Спорт, здоровье, красота :: Справочники :: Техника и конструкции :: Учебная и научная литература :: Фен-Шуй :: Философия :: Хобби, досуг :: Художественная лит-ра :: Эзотерика :: Экономика и финансы :: Энциклопедии :: Юриспруденция и право :: Языки

Новинки


Mitsubishi R4AW2 / R4AW3 / V4AW2 / V4AW3 / V4AW4 / R4A51 / V4A51 / V5A51, руководство по ремонту коробки передач в электронном виде (на английском языке)

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Автор: Abdelkhalak El Hami

Издательство: John Wiley & Sons Limited

Cтраниц: 1

Формат: PDF

Размер: 0

ISBN: 9781119329657

Качество: excellent

Язык:

Описание:

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.

Скачать Скачать легальную копию

Пресс - релиз

К настоящему времени нет отзывов!