|
Автор: Коллектив авторов |
Издательство: Издательский дом “Белорусская на |
Год: 2018 |
Cтраниц: 1 |
Формат: PDF |
Размер: 0 |
ISBN: 978-5-04-158515-0 |
Качество: excellent |
Язык: |
|
 |
Описание:
|
Рассмотрены и обобщены результаты исследований и разработок в области технологии и оборудования для производства и диагностики субмикронных структур полупроводниковой микроэлектроники. Предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и других отраслей промышленности, специалистов научно-исследовательских институтов, аспирантов, магистрантов и студентов старших курсов технических вузов.
|
Просмотров: 101 Пресс - релиз
string(4) "true"
int(290)
|