Учебная и научная литература
>
Технические науки
>
Радиоэлектроника
>
Электроника
Каталог
:: Java книги
:: Авто
:: Астрология
:: Аудио книги
:: Биографии и Мемуары
:: В мире животных
:: Гуманитарные и общественные науки
:: Детские книги
:: Для взрослых
:: Для детей
:: Дом, дача
:: Журналы
:: Зарубежная литература
:: Знания и навыки
:: Издательские решения
:: Искусство
:: История
:: Компьютеры
:: Кулинария
:: Культура
:: Легкое чтение
:: Медицина и человек
:: Менеджмент
:: Наука и образование
:: Оружие
:: Программирование
:: Психология
:: Психология, мотивация
:: Публицистика и периодические издания
:: Разное
:: Религия
:: Родителям
:: Серьезное чтение
:: Спорт
:: Спорт, здоровье, красота
:: Справочники
:: Техника и конструкции
:: Учебная и научная литература
:Гуманитарные и общественные науки
:Естественные науки
:Технические науки
:Горное дело
:Пищевая промышленность
:Радиоэлектроника
:Автоматика и телемеханика
:Квантовая электроника
:Кибернетика
:Радиолокация
:Радиотехника
:Электрическая связь
:Электроакустика
:Электроника
:Строительство
:Технологии металлов
:Транспорт
:Химическая технология
:Энергетика
:: Фен-Шуй
:: Философия
:: Хобби, досуг
:: Художественная лит-ра
:: Эзотерика
:: Экономика и финансы
:: Энциклопедии
:: Юриспруденция и право
:: Языки
Новинки
Nissan Terrano (D21) 1985 thru 1994, service e-manual (in German)
Transmission Electron Microscopy in Micro-nanoelectronics
Автор:
Alain Claverie
Издательство:
John Wiley & Sons Limited
Cтраниц:
1
Формат:
PDF
Размер:
0
ISBN:
9781118579039
Качество:
excellent
Язык:
Описание:
Today, the availability of bright and highly coherent electron sources and sensitive detectors has radically changed the type and quality of the information which can be obtained by transmission electron microscopy (TEM). TEMs are now present in large numbers not only in academia, but also in industrial research centers and fabs. This book presents in a simple and practical way the new quantitative techniques based on TEM which have recently been invented or developed to address most of the main challenging issues scientists and process engineers have to face to develop or optimize semiconductor layers and devices. Several of these techniques are based on electron holography; others take advantage of the possibility of focusing intense beams within nanoprobes. Strain measurements and mappings, dopant activation and segregation, interfacial reactions at the nanoscale, defect identification and specimen preparation by FIB are among the topics presented in this book. After a brief presentation of the underlying theory, each technique is illustrated through examples from the lab or fab.
Скачать
Скачать легальную копию
Просмотров: 23
Пресс - релиз
string(4) "true" int(166)
К настоящему времени нет отзывов!
Рекомендуем
Новая жизнь без трусов
Информация
Свяжитесь с нами
Как скачать и чем читать
Quiero dinero © 2007
