Знания и навыки> Учебная и научная литература> Технические науки>

Техническая литература

Каталог


:: Java книги :: Авто :: Астрология :: Аудио книги :: Биографии и Мемуары :: В мире животных :: Гуманитарные и общественные науки :: Детские книги :: Для взрослых :: Для детей :: Дом, дача :: Журналы :: Зарубежная литература :: Знания и навыки :Бизнес-книги :Компьютерная литература :Научно-популярная литература :Словари, справочники :Учебная и научная литература :Безопасность жизнедеятельности :Военное дело :Гуманитарные и общественные науки :Естественные науки :Задачники :Зарубежная образовательная литература :Медицина / здравоохранение :Монографии :Научные труды :Практикумы :Прочая образовательная литература :Сельское и лесное хозяйство :Технические науки :Высокие технологии :Информатика и вычислительная техника :Конструкции :Легкая промышленность :Материаловедение :Машиностроение :Нормативная документация :Общетехнические дисциплины :Основы производства :Пищевая промышленность :Приборостроение :Проектирование :Промышленность :Радиоэлектроника :Строительство :Техническая литература :Транспорт :Химическая технология :Эксплуатация промышленного оборудования :Учебники и пособия для вузов :Учебники и пособия для ссузов :Учебно-методические пособия (методички) :: Издательские решения :: Искусство :: История :: Компьютеры :: Кулинария :: Культура :: Легкое чтение :: Медицина и человек :: Менеджмент :: Наука и образование :: Оружие :: Программирование :: Психология :: Психология, мотивация :: Публицистика и периодические издания :: Разное :: Религия :: Родителям :: Серьезное чтение :: Спорт :: Спорт, здоровье, красота :: Справочники :: Техника и конструкции :: Учебная и научная литература :: Фен-Шуй :: Философия :: Хобби, досуг :: Художественная лит-ра :: Эзотерика :: Экономика и финансы :: Энциклопедии :: Юриспруденция и право :: Языки

Новинки


Volkswagen Polo (MK6) since 2017, service e-manual

Spectroscopic Ellipsometry

Автор: Hiroyuki Fujiwara

Издательство: John Wiley & Sons Limited

Cтраниц: 1

Формат: PDF

Размер: 0

ISBN: 9780470060186

Качество: excellent

Язык:

Описание:

Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE). Beginning with an overview of SE technologies the text moves on to focus on the data analysis of results obtained from SE, Fundamental data analyses, principles and physical backgrounds and the various materials used in different fields from LSI industry to biotechnology are described. The final chapter describes the latest developments of real-time monitoring and process control which have attracted significant attention in various scientific and industrial fields.

Скачать Скачать легальную копию

Пресс - релиз

К настоящему времени нет отзывов!