Знания и навыки
>
Учебная и научная литература
>
Технические науки
>
Техническая литература
Каталог
:: Java книги
:: Авто
:: Астрология
:: Аудио книги
:: Биографии и Мемуары
:: В мире животных
:: Гуманитарные и общественные науки
:: Детские книги
:: Для взрослых
:: Для детей
:: Дом, дача
:: Журналы
:: Зарубежная литература
:: Знания и навыки
:Бизнес-книги
:Компьютерная литература
:Научно-популярная литература
:Словари, справочники
:Учебная и научная литература
:Безопасность жизнедеятельности
:Военное дело
:Гуманитарные и общественные науки
:Естественные науки
:Задачники
:Зарубежная образовательная литература
:Медицина / здравоохранение
:Монографии
:Научные труды
:Практикумы
:Прочая образовательная литература
:Сельское и лесное хозяйство
:Технические науки
:Высокие технологии
:Информатика и вычислительная техника
:Конструкции
:Легкая промышленность
:Материаловедение
:Машиностроение
:Нормативная документация
:Общетехнические дисциплины
:Основы производства
:Пищевая промышленность
:Приборостроение
:Проектирование
:Промышленность
:Радиоэлектроника
:Строительство
:Техническая литература
:Транспорт
:Химическая технология
:Эксплуатация промышленного оборудования
:Учебники и пособия для вузов
:Учебники и пособия для ссузов
:Учебно-методические пособия (методички)
:: Издательские решения
:: Искусство
:: История
:: Компьютеры
:: Кулинария
:: Культура
:: Легкое чтение
:: Медицина и человек
:: Менеджмент
:: Наука и образование
:: Оружие
:: Программирование
:: Психология
:: Психология, мотивация
:: Публицистика и периодические издания
:: Разное
:: Религия
:: Родителям
:: Серьезное чтение
:: Спорт
:: Спорт, здоровье, красота
:: Справочники
:: Техника и конструкции
:: Учебная и научная литература
:: Фен-Шуй
:: Философия
:: Хобби, досуг
:: Художественная лит-ра
:: Эзотерика
:: Экономика и финансы
:: Энциклопедии
:: Юриспруденция и право
:: Языки
Новинки
Dodge Dakota с 1995 по 2000 год, электрооборудование и электросхемы в электронном виде (на английском языке)
Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Автор:
Budhika Mendis G.
Издательство:
John Wiley & Sons Limited
Cтраниц:
1
Формат:
PDF
Размер:
0
ISBN:
9781118696552
Качество:
excellent
Язык:
Описание:
A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Electron microscopy is one of the most widely used characterisation techniques in materials science, physics, chemistry, and the life sciences. This book examines the interactions between the electron beam and the specimen, the fundamental starting point for all electron microscopy. Detailed explanations are provided to help reinforce understanding, and new topics at the forefront of current research are presented. It provides readers with a deeper knowledge of the subject, particularly if they intend to simulate electron beam-specimen interactions as part of their research projects. The book covers the vast majority of commonly used electron microscopy techniques. Some of the more advanced topics (annular bright field and dopant atom imaging, atomic resolution chemical analysis, band gap measurements) provide additional value, especially for readers who have access to advanced instrumentation, such as aberration-corrected and monochromated microscopes. Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy offers enlightening coverage of: the Monte-Carlo Method; Multislice Simulations; Bloch Waves in Conventional and Analytical Transmission Electron Microscopy; Bloch Waves in Scanning Transmission Electron Microscopy; Low Energy Loss and Core Loss EELS. It also supplements each chapter with clear diagrams and provides appendices at the end of the book to assist with the pre-requisites. A detailed presentation of the physics of electron beam-specimen interactions Each chapter first discusses the background physics before moving onto simulation methods Uses computer programs to simulate electron beam-specimen interactions (presented in the form of case studies) Includes hot topics brought to light due to advances in instrumentation (particularly aberration-corrected and monochromated microscopes) Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy benefits students undertaking higher education degrees, practicing electron microscopists who wish to learn more about their subject, and researchers who wish to obtain a deeper understanding of the subject matter for their own work.
Скачать
Скачать легальную копию
Просмотров: 32
Пресс - релиз
string(4) "true" int(290)
К настоящему времени нет отзывов!
Рекомендуем
Oracle PL/SQL Programming
Информация
Свяжитесь с нами
Как скачать и чем читать
Quiero dinero © 2007
