TakeBooks.com TakeBooks.com TakeBooks.com
TakeBooks.com
TakeBooks.com
  Каталог> Знания и навыки> Учебная и научная литература>

Прочая образовательная литература

> 9783527636945
TakeBooks.com
TakeBooks.com
 Каталог
:: Java книги
:: Авто
:: Астрология
:: Аудио книги
:: Биографии и Мемуары
:: В мире животных
:: Гуманитарные и общественные науки
:: Детские книги
:: Для взрослых
:: Для детей
:: Дом, дача
:: Журналы
:: Зарубежная литература
:: Знания и навыки
   :Бизнес-книги
   :Компьютерная литература
   :Научно-популярная литература
   :Словари, справочники
   :Учебная и научная литература
     :Безопасность жизнедеятельности
     :Военное дело
     :Гуманитарные и общественные науки
     :Естественные науки
     :Задачники
     :Зарубежная образовательная литература
     :Медицина / здравоохранение
     :Монографии
     :Научные труды
     :Практикумы
     :Прочая образовательная литература
     :Сельское и лесное хозяйство
     :Технические науки
     :Учебники и пособия для вузов
     :Учебники и пособия для ссузов
     :Учебно-методические пособия (методички)
:: Издательские решения
:: Искусство
:: История
:: Компьютеры
:: Кулинария
:: Культура
:: Легкое чтение
:: Медицина и человек
:: Менеджмент
:: Наука и образование
:: Оружие
:: Программирование
:: Психология
:: Психология, мотивация
:: Публицистика и периодические издания
:: Разное
:: Религия
:: Родителям
:: Серьезное чтение
:: Спорт
:: Спорт, здоровье, красота
:: Справочники
:: Техника и конструкции
:: Учебная и научная литература
:: Фен-Шуй
:: Философия
:: Хобби, досуг
:: Художественная лит-ра
:: Эзотерика
:: Экономика и финансы
:: Энциклопедии
:: Юриспруденция и право
:: Языки
 Рекомендуем
Жизнь без трусов
Жизнь без трусов
 Новинки
Czarna, czarna ton
Czarna, czarna ton
 
 

Surface and Thin Film Analysis. A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications

Surface and Thin Film Analysis. A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Автор: Friedbacher Gernot
Издательство: John Wiley & Sons Limited
Cтраниц: 1
Формат: PDF
Размер: 0
ISBN: 9783527636945
Язык: 
Описание:
Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts – electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry. From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett) «… a useful resource…» (Journal of the American Chemical Society)




Просмотров: 15

Пресс - релиз

Последние отзывы:
К настоящему времени нет отзывов!
Написать отзыв
Вход 
Если Вы забыли пароль, щелкните здесь





Вы новый клиент?
Зарегистрируйтесь
 
 Информация 
Свяжитесь с нами
Как скачать и чем читать
  Quiero dinero © 2007